|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestTestsysteme für Laserdioden28. Februar 2022 - Instrument Systems präsentiert auf der LASER WoP 2022 sein umfangreiches Testportfolio für IR-Emitter und VCSEL. Neue Produktentwicklungen im Bereich der Spektralradiometer der CAS-Serie und der VTC Near-/Far-Field-Kameras bedienen den immens gewachsenen Markt der Laserdioden-Produktion für den kurzwelligen Infrarot-Bereich von 900 bis 1700 nm. Mit dem passenden LIV-Test-Equipment - zusätzlich bestehend aus Ulbricht-Kugeln, Photodioden, Source-Measure-Units (SMUs) und Temperaturreglern - können Laserdioden vollumfänglich optisch charakterisiert werden. Parametrisches Testsystem für Wafer-Tests20. Januar 2022 – Keysight Technologies hat das parallele parametrische Testsystem Keysight P9002A vorgestellt. Das Testsystem bietet einen kosteneffizienten Wafertest mit hohem Durchsatz sowie eine flexible Optionsstruktur für bis zu 100 Kanäle paralleler Testressourcen, einschließlich der für parametrische Tests an jeder Testressource erforderlichen Testfunktionen. Ein neuer Adapter für Tastkopfkarten und die SPECS-Software unterstützen zudem einen reibungslosen Produktionsanlauf. SoC-Tester unterstützt softwarebasierte Funktions- und HSIO SCAN-Tests03. Dezember 2021 - Advantest stellt mit der Link Scale Produktreihe neue digitale Karten für die V93000 Plattform vor. Diese ermöglichen softwarebasierte Funktionstests und USB / PCI Express (PCIe) SCAN-Tests bei Halbleitern der nächsten Generation. Die Plattform wird um systemähnliche Test-Funktionen erweitert und erlaubt es Schnittstellen beim Testen im vollständigen Protokollmodus zu betreiben. Probe-Card-Technologie für PIC-Wafer-Level-Tests01. Dezember 2021 - Final-Tests sind ein wichtiger Bestandteil der Supply Chain von elektronischen Bauteilen. Für integrierte Schaltkreise (ICs) sind diese fest etabliert – für integrierte photonische Schaltkreise (PICs) ist das Test-Eco-System noch im Aufbau. Einen essenziellen Baustein für neuartige PIC-Wafer-Level-Tests liefert Jenoptik mit der opto-elektronischen UFO Probe Card. RoodMicrotec setzt diese bereits ein und profitiert von einer schnellen und unkomplizierten Integration und hoher Flexibilität. Advantest erweitert Produktspektrum durch Übernahme von R&D Altanova23. November 2021 - Advantest Corporation hat das US-amerikanische Unternehmen R&D Altanova, Inc. übernommen. R&D Altanova ist ein Anbieter von Test Interface Boards, Substraten und Verbindungstechnologien für High-End-Anwendungen. Das Unternehmen bietet Simulation, Design, Layout, Herstellung und Montage von Test Interface Boards an, die in Testgeräten bei der Prüfung von neuesten ICs eingesetzt werden. Prüfung der Lasersicherheit bei 3D-Sensoren27. Oktober 2021 – Instrument Systems hat ein praxistaugliches Konzept zur Lasersicherheitsbewertung von VCSEL entwickelt. Mit absolut kalibrierten und modularen Testsystemen, wie dem Pulsed VCSEL Tester PVT 100/110 und der kamerabasierten VTC 2400, kann eine vollständige Charakterisierung gepulster VCSEL-Arrays durchgeführt werden. Da VCSEL-Arrays ein drastisches Wachstum bei 3D-Sensoranwendungen - wie z.B. Face ID, Automotive LiDAR und Human-Machine-Interfaces (AR/VR) - verzeichnen, wird der Nachweis ihrer Augensicherheit immer wichtiger. Bestimmung der Hochfrequenzeigenschaften von Materialien13. Oktober 2021 - Advantest hat eine optionale Hochfrequenzauflösung für sein optisches Terahertz-Probenentnahme-Analysesystem TAS7400TS angekündigt. Die neue Option zeichnet sich durch ein hervorragendes Preis-Leistungsverhältnis und einfache Bedienung aus. Sie bietet ein innovatives Messverfahren zur Bestimmung der Hochfrequenzeigenschaften von Funkwellenabsorbern sowie speziellen Materialien. Diese hochwertigen Komponenten sind für die Kommunikationstechnologie der nächsten Generation 6G und Millimeterwellen-Radartechnologien für ADAS Anwendungen (Advanced Driver Assistance Systems) unerlässlich. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |