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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestGaN-Test und Charakterisierung mit Dynamic Power Device Analyzer04. Juni 2021 – Keysight Technologies stellt eine optimierte Galliumnitrid (GaN)-Testplatine für den Dynamic Power Device Analyzer/Doppelpulstester PD1500A des Unternehmens vor, mit der Entwickler von Stromrichtern die Prototypenzyklen reduzieren und die Einführung neuer Produkte beschleunigen können. Das neue GaN-Testboard ermöglicht eine reproduzierbare und zuverlässige Charakterisierung dieser schnell schaltenden Bauelementen. Batteriebetriebener Potentiostat, Galvanostat und Impedanzanalysator12. Mai 2021 - LXinstruments hat den PalmSens4 des niederländischen Unternehmens PalmSens in das Produktportfolio aufgenommen. Das Gerät kann als Potentiostat, Galvanostat oder Impedanzanalysator genutzt werden und ist damit ideal für Messungen und Untersuchungen an galvanischen Zellen. Der PalmSens4 zeichnet sich durch eine extrem kompakte Größe und hohe Leistungsfähigkeit aus. Short-Pulse-Test für temperaturempfindliche High-Power-LEDs07. April 2021 – Short-Pulse-Messungen erfordern Spektralradiometer mit minimalen Messzeiten im Mikrosekunden-Bereich und präzisem Trigger. Instrument Systems hat hierfür das neue Spektralradiometer CAS 125 mit CMOS-Sensor und eigens entwickelter Ausleseelektronik konzipiert. In Entwicklung und Produktion lässt sich damit eine deutlich präzisere Charakterisierung von LEDs mit hoher Stromdichte oder hoher Leuchtdichte sowie von High-Power-LEDs mit verringerter Wärmeableitung erreichen. Cloud-basierte Daten- und Analyse-Plattform für die Halbleiterindustrie26. Januar 2021 - Advantest hat in Zusammenarbeit mit seinem Partner PDF Solutions zwei neue, innovative Cloud-basierte Softwarelösungen vorgestellt: das Advantest V93000 Dynamic Parametric Test (DPT) System powered by PDF Exensio DPT und ein Edge High Performance Compute (HPC) System. Diese Lösungen sind Teil der kürzlich eingeführten Advantest Cloud Solutions (ACS), einem Ökosystem aus Cloud-basierten Produkten und Dienstleistungen. Zentraler Aspekt dieses Ökosystems bildet die daten- und analyseorientierte Plattform Advantest Cloud powered by PDF Exensio, die Advantest gemeinsam mit PDF Solutions entwickelt hat. Automatisierte Testzelle für IC-Tests17. Dezember 2020 – Advantest und der Halbleiterhersteller STMicroelectronics haben gemeinsam eine vollautomatische integrierte Testzelle für den Final-Test von ICs entwickelt. Das System verbessert die Overall Equipment Efficiency (Gesamteffizienz der Anlage) und die Produktionsqualität im Halbleitertest- und Packaging Prozess. Das Pilotsystem wird in der Back-End-Fertigung von STMicroelectronics in Muar, Malaysia, eingesetzt. Parametrisches Testsystem für Wide Band Gap Bauteile03. November 2020 - Tektronix hat das neue parametrische Testsystem „Keithley S530 Series Parametric Test System“ mit neuer KTE 7 Software-Unterstützung und weiteren Verbesserungen vorgestellt. Die neue S530-Plattform bietet eine Reihe von Verbesserungen gegenüber dem Vorgängersystem, wie einen höheren Durchsatz und Tests mit bis zu 1100 V an jedem Pin. Inline-Röntgensystem für Drahtbondinspektion20. Oktober 2020 – Für eine umfassende Inspektion von Leistungshalbleitern und gleichermaßen von gekapselten Sensorelementen kann das neue Viscom-System X7056-II BO Bonddrähte optisch und röntgentechnisch in einem Inlinesystem bei maximaler Prüftiefe prüfen. Das neue Inlinesystem X7056-II BO vereint effektiv die optische Drahtbondkontrolle mit der Röntgenprüfung, um auch eingehauste Drahtbonds und verdeckte Lötstellen unterhalb von Chips zuverlässig und präzise zu prüfen. Weitere Beiträge ...
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